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Nanotechnologie: Das Rasterkraftmikroskop (AFM) - Strukturierung und Charakterisierung im Nanometerbereich

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Metadaten
Author:Wolfgang Kronast, Ulrich MeschederORCiDGND
Parent Title (German):Forschungsbericht
Document Type:Report
Identifier:Im Katalog der Hochschule Furtwangen ansehen
Language:German
Year of Completion:2005
Release Date:2018/09/14
First Page:47
Last Page:53
Forschungsbericht:Forschungsbericht 2004/2005
Licence (German):License LogoUrheberrechtlich gesch├╝tzt