Das Rasterkraftmikroskop (AFM) zur Charakterisierung und Strukturierung im Nanometerbereich
| Author: | Wolfgang Kronast, Aritz J. Laskurain, Ulrich MeschederORCiDGND |
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| ISSN: | 1432-9174 |
| Parent Title (German): | Horizonte |
| Document Type: | Contribution to a Periodical |
| Language: | German |
| Year of Completion: | 2004 |
| Release Date: | 2018/01/26 |
| Issue: | 25 |
| First Page: | 3 |
| Last Page: | 8 |
| Licence (German): |  Urheberrechtlich geschützt |